2005年上海地区分析测试技术研讨会3月15日召开 (2005-03-04)
发布时间:2025-01-02 09:00:00
由中国上海测试中心、上海市计量测试技术研究院、上海市分析测试协会共同举办的“2005年上海地区分析测试技术研讨会”定于2005年3月15日(星期二)在上海市计量测试技术研究院二楼学术报告大厅举行。 中国科学院博士生导师、中国分析仪器学会副理事长、中国光学仪器学会副主任、中国国家质量技术监督局国家级计量认证评审员、《光学仪器》副主编、《生命科学仪器》副主编:李昌厚教授主讲。同时还有中科院其他分析仪器专家到场与大家交流。 日程安排 1.国内、国外原子吸收分光光度计的应用和最新进展 2.原吸主要技术指标的物理意义、重要性、测试方法 3.如何评价(挑选)原子吸收分光光度计 4.如何用好原子吸收分光光度计的几个关键问题李昌厚教授 5.普析通用公司产品介绍 6.国内、国外紫外分光光度计的应用和最新进展 7.紫外主要技术指标的物理意义、重要性、测试方法 8.如何评价(挑选)紫外可见分光光度计 9.如何用好紫外可见分光光度计的几个关键问题 10.其他分析仪器技术交流 本次技术讲座不收任何费用 联系人:丁轶帅韩春陈蓓芬 单位:北京普析通用公司上海办事处 地址:上海市漕溪北路737弄1号楼2501室 邮编:200030 电话:021-64681026-129/131, 13701975201 传真:64684506
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